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XR100 SOE测试仪

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详细介绍

XR100 SOE测试仪

测试仪可直接与DCS系统的SOE(sequence of event)卡件连接,测试DCS系统SOE卡件的时间分辨率,DCS系统的站间同步等技术指标。也适用于其它如故障录波装置的开关量事件分辨率等的测试。

技术参数:

通道数:8通道;

隔离:光电隔离,每个通道独立;

耐压:DC300V;

设置最小时间间隔:0.1ms;

误差:不大于0.02ms;

 
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